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如何使用纳米位移台完成样品的自动定位?

使用纳米位移台完成样品的自动定位,通常需要结合硬件控制、传感器反馈以及软件算法来实现高精度的自动移动和定位。以下是实现自动定位的关键步骤和方法:
1. 硬件准备与控制接口
纳米位移台本体:具备高分辨率和高重复定位精度的多轴纳米位移台(如XYZ三轴或五轴)
驱动控制器:支持计算机接口(如USB、Ethernet、RS232等),能够接收运动指令并实时反馈位置数据
传感器:高精度位置传感器(如光栅尺、编码器、干涉仪)用于反馈实际位置,确保闭环控制
2. 样品和基准点标定
设定参考坐标系:在样品台上或样品上标定若干已知位置(基准点),作为自动定位的起点和参考。
预先测量:利用显微镜、相机或其他成像设备,识别目标区域在样品上的精确位置坐标。
3. 软件编程与控制算法
路径规划:根据目标点坐标规划移动路径,避免冲突和不必要的移动,确保效率。
闭环控制:结合传感器反馈,实现实时位置校正,保证移动到预定位置的高精度。
图像识别辅助定位(可选):利用机器视觉技术,通过图像处理识别样品特征点,自动调整位移台位置。
4. 自动定位流程示例
初始化:纳米位移台复位到初始位置,软件加载预设的定位点坐标。
粗定位:快速移动到目标区域附近的粗略位置。
细定位:根据传感器反馈及图像识别,微调位移台位置,达到纳米级定位精度。
确认定位:通过实时成像或传感器验证位置,确认目标区域正确定位。
记录位置:保存当前位置信息,方便后续重复定位或多点扫描。