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纳米位移台的噪声不仅是“声音上的噪音”，更重要的是 机械振动和电噪声，会直接或间接影响实验精度。主要体现在以下几个方面：
1. 对定位精度的影响
噪声往往伴随微小振动，会导致位移台产生随机的位移抖动。
在要求纳米级分辨率的实验中，即使几个纳米的抖动也会造成明显误差。
2. 对成像和测量的影响
在扫描电镜（SEM）、原子力显微镜（AFM）等实验中，台子振动会使图像模糊或产生伪影。
光学实验（如干涉测量、显微成像）中，噪声会降低图像清晰度和对比度。
3. 对重复性和稳定性的影响
噪声带来的随机位移，使同一位置的重复测量结果存在偏差，降低实验可重复性。
长时间实验时，噪声积累会加大漂移和误差。
4. 对控制系统的影响
电噪声可能干扰闭环传感器的信号，使控制器无法正确判断位置。
在高灵敏度控制中，噪声会放大滞回、非线性和漂移问题。