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纳米位移台细调模式通常是指在已经完成初步调整和定位之后，对于微小的位移调整进行精细控制的方式。
纳米位移台的细调模式一般有以下几种：
轮廓扫描模式：在该模式下，操作人员可以通过观察样品的轮廓来进行微调。可以使用高倍率的显微镜或者扫描电子显微镜等设备来实现。这种方法适用于样品表面形貌的调整。
基于图像处理的自动微调模式：这种方法利用图像处理技术，将样品的图像与目标图像进行比较，通过计算出偏差，并将调整命令反馈给位移台，实现微小的位移调整。这种方法适用于需要进行精细调整的样品表面的形貌或者特征。
感应器控制模式：该模式下，位移台上会安装有感应器，用来检测样品的位移和偏差。操作人员可以通过读取感应器数据，判断样品是否需要进行微调，然后下达相应的位移指令。
纳米位移台细调模式的选择，应根据实际的应用场景和需要进行综合考虑。
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