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纳米位移台如何测量物体位移

纳米位移台通过一系列微观调节装置和高灵敏度的传感器来测量物体的微小位移或变形。通常,纳米位移台使用激光干涉仪或压电传感器等高精度传感器来测量物体的位移。
激光干涉仪是一种基于激光干涉原理的测量技术,它可以检测到微小的位移或变形。它包括一个激光源、一个分束器、一组反射镜和一个探测器。激光经过分束器后,被分成两束,分别照射到被测物体和参考面上,然后反射回来并再次汇聚在探测器上。通过比较两束激光的相位差异,就可以测量出物体的微小位移。
压电传感器是一种利用压电效应来测量位移的传感器。当压电材料受到外界力的作用时,它会产生电荷分布的变化,从而产生电势差。通过测量这种电势差的变化,就可以确定物体的微小位移。
在纳米位移台中,这些传感器被安装在微观调节装置上,可以调整物体的位置和方向,以便进行准确的测量。通过将纳米位移台与其他实验设备结合使用,例如扫描电子显微镜或原子力显微镜等,可以获得更准确和详细的物体位移信息。
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